J. Wang, C. Chen, B. Xu, Q. Y. Xu (*), R. B. Liu, Y. Yuan, L. Q. Huang, T. Y. Liu, L. J. Wei, B. You, W. Zhang, J. Du (*)

Applied Surface Science 517, 146165 (2020)

DOI: 10.1016/j.apsusc.2020.146165